Картины дифракции Фраунгофера обнаруживают ряд довольно интересных свойств симметрии. Рассматривается простой, но весьма общий случай дифракции излучения на отверстиях в экране в том случае, когда фаза электрического поля в падающей на экран волне остается постоянной в пределах отверстия. В этом случае распределение интенсивности дифрагированного поля в плоскости изображения независимо от формы отверстия обладает центром симметрии. Кроме этого, наличие дополнительной симметрии в форме отверстия приводит к появлению соответствующей дополнительной симметрии и в картинах дифракции Фраунгофера. Все эти свойства обсуждаются на примере восьми фотографий дифракционных картин.
Ε. Ηесht, Symmetries in Fraunhofer Diffraction, Amer. J. Phys. 40, 571 (1972). Перевод С. Н. Столярова Э. Гехт — сотрудник физического отдела Университета Адельфи, Гарден-Сити, Нью-Йорк (США).

RT Journal
T1 Svoistva simmetrii v kartinakh difraktsii Fraungofera
A1 Гехт,Э.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1973
FD 10 Oct, 1973
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 111
IS 10
SP 355-364
DO 10.3367/UFNr.0111.197310g.0355
LK https://ufn.ru/ru/articles/1973/10/g/