Выпуски

 / 

1972

 / 

Февраль

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок

Содержание: Режим работы просвечивающего микроскопа при отображении магнитной структуры ТМП. Контраст изображения магнитных структур. Изучение структуры доменных границ. Тонкая структура намагниченности внутри доменов (рябь намагниченности). Статические доменные структуры. Исследование перемагничивания пленок. Цитированная литература.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
Цитата: Петров В И, Спивак Г В, Павлюченко О П "Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок" УФН 106 229–278 (1972)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Electron microscopy of the magnetic structure of thin films
A1 Petrov,V.I.
A1 Spivak,G.V.
A1 Pavlyuchenko,O.P.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1972
FD 10 Feb, 1972
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 106
IS 2
SP 229-278
DO 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
LK https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/

English citation: Petrov V I, Spivak G V, Pavlyuchenko O P “Electron microscopy of the magnetic structure of thin filmsSov. Phys. Usp. 15 66–94 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946

© Успехи физических наук, 1918–2022
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение