Выпуски

 / 

1972

 / 

Февраль

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок

Содержание: Режим работы просвечивающего микроскопа при отображении магнитной структуры ТМП. Контраст изображения магнитных структур. Изучение структуры доменных границ. Тонкая структура намагниченности внутри доменов (рябь намагниченности). Статические доменные структуры. Исследование перемагничивания пленок. Цитированная литература.

Текст pdf (8 Мб)
PACS: 75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
Цитата: Петров В И, Спивак Г В, Павлюченко О П "Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок" УФН 106 229–278 (1972)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS) MedlineRefWorks
Русский English
PT Journal Article
TI Electron microscopy of the magnetic structure of thin films
AU Petrov V I
FAU Petrov VI
AU Spivak G V
FAU Spivak GV
AU Pavlyuchenko O P
FAU Pavlyuchenko OP
DP 10 Feb, 1972
TA Usp. Fiz. Nauk
VI 106
IP 2
PG 229-278
RX 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
SO Usp. Fiz. Nauk 1972 Feb 10;106(2):229-278

English citation: Petrov V I, Spivak G V, Pavlyuchenko O P “Electron microscopy of the magnetic structure of thin filmsSov. Phys. Usp. 15 66–94 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение