Растровый электронный микроскоп (РЭМ)— прибор, позволяющий без особой предварительной подготовки исследовать объекты с произвольной геометрией и с разрешением на порядок лучше, чем у оптического микроскопа.В основу его работы положен телевизионный принцип развертки тонкого пучка электронов или ионов по поверхности образца. В результате взаимодйствия луча с веществом в каждой точке поверхности объекта вызывается ряд физических явлений, которые регистируются соответствующими датчиками, а сигнал от них после усиления модулирует локальную яркость кинескопа, развертка которого синхронна со смещением первичного пучка. Таким образом,каждый элемент поверхности объекта находится во взаимно однозначном соответствии с яркостью определенного места на экране.

@article{Spivak:1969,
	author = {G. V. Spivak and G. V. Saparin and M. V. Bykov},
	title = {Scanning electron microscopy},
	publisher = {Uspekhi Fizicheskikh Nauk},
	year = {1969},
	journal = {Usp. Fiz. Nauk},
	volume = {99},
	number = {12},
	pages = {635-672},
	url = {https://ufn.ru/ru/articles/1969/12/d/},
	doi = {10.3367/UFNr.0099.196912d.0635}
}