Содержание: Описание полупроводниковой поверхности с помощью моделей. Получение чистых поверхностей. Свойства чистых полупроводниковых поверхностей.
DOI:10.3367/UFNr.0082.196402f.0325 URL: https://ufn.ru/ru/articles/1964/2/f/ Цитата: Гейланд Г "Образование и свойства чистых поверхностей полупроводников" УФН82 325–386 (1964)
RT Journal
T1 Obrazovanie i svoistva chistykh poverkhnostei poluprovodnikov
A1 Гейланд,Г.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1964
FD 10 Feb, 1964
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 82
IS 2
SP 325-386
DO 10.3367/UFNr.0082.196402f.0325
LK https://ufn.ru/ru/articles/1964/2/f/