Идеи, лежащие в основе метода диффракционнбй микроскопии, так же как и некоторые вопросы практического осуществления соответствующих устройств, были уже освещены на страницах нашего журнала. Однако за последнее время появилось несколько работ, позволяющих рассмотреть принцип диффракционной микроскопии с несколько иной точки зрения и произвести достаточно обоснованную оценку реальных возможностей этого метода.

RT Journal
T1 Проблема разрешающей способности в диффракционной микроскопии
A1 Розенберг,Г.В.
PB Успехи физических наук
PY 1953
FD 10 Jul, 1953
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 50
IS 7
SP 467-472
DO 10.3367/UFNr.0050.195307i.0467
LK https://ufn.ru/ru/articles/1953/7/i/