1.R. Lattes, G. Occhialini, C. Powell, Proc. Phys. Soc. 61,173
2. P. Fowler, Phil. Mag. 41, 169 (1950).
3. G. Stevens, Fundamental mechanisms of phot, sensitivity, London, 1951.
DOI:10.3367/UFNr.0049.195304f.0616 URL: https://ufn.ru/ru/articles/1953/4/f/ Цитата: А Х "Фотоэлектрический метод измерения плотности следов в ядерных эмульсиях" УФН49 616–620 (1953)
RT Journal
T1 Fotoelektricheskii metod izmereniya plotnosti sledov v yadernykh emul'siyakh
A1 ,А.Х.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1953
FD 10 Apr, 1953
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 49
IS 4
SP 616-620
DO 10.3367/UFNr.0049.195304f.0616
LK https://ufn.ru/ru/articles/1953/4/f/