1.R. Lattes, G. Occhialini, C. Powell, Proc. Phys. Soc. 61,173
2. P. Fowler, Phil. Mag. 41, 169 (1950).
3. G. Stevens, Fundamental mechanisms of phot, sensitivity, London, 1951.
DOI:10.3367/UFNr.0049.195304f.0616 URL: https://ufn.ru/ru/articles/1953/4/f/ Цитата: А Х "Фотоэлектрический метод измерения плотности следов в ядерных эмульсиях" УФН49 616–620 (1953)
PT Journal Article
TI Fotoelektricheskii metod izmereniya plotnosti sledov v yadernykh emul'siyakh
AU А Х
FAU АХ
DP 10 Apr, 1953
TA Usp. Fiz. Nauk
VI 49
IP 4
PG 616-620
RX 10.3367/UFNr.0049.195304f.0616
URL https://ufn.ru/ru/articles/1953/4/f/
SO Usp. Fiz. Nauk 1953 Apr 10;49(4):616-620