1.R. Lattes, G. Occhialini, C. Powell, Proc. Phys. Soc. 61,173
2. P. Fowler, Phil. Mag. 41, 169 (1950).
3. G. Stevens, Fundamental mechanisms of phot, sensitivity, London, 1951.
DOI:10.3367/UFNr.0049.195304f.0616 URL: https://ufn.ru/ru/articles/1953/4/f/ Цитата: А Х "Фотоэлектрический метод измерения плотности следов в ядерных эмульсиях" УФН49 616–620 (1953)
TY JOUR
TI Fotoelektricheskii metod izmereniya plotnosti sledov v yadernykh emul'siyakh
AU , А. Х.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1953
JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JA Usp. Fiz. Nauk
VL 49
IS 4
SP 616-620
UR https://ufn.ru/ru/articles/1953/4/f/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0049.195304f.0616