Диффракционная линия на рентгенограмме поликристалла обладает некоторой шириной, которая зависит как от условий эксперимента (размер образца, расходимость пучка, нестрогая монохроматичность пучка и т. д.), так и от кристаллической структуры, а именно, размера кристаллических зёрен и характера искажения решётки. Исследование этих двух особенностей; кристаллической структуры при помощи измерения расширения диффракционных линий служило предметом весьма значительного количества работ.