Journ. Sci. Instruments т. 22, вып. 9, 1945. Перевод В. М. Харитонова. В настоящей статье даётся краткий обзор некоторых новых приёмов, разработанных автором в последнее время в области интерферометрической оптики. Эти приёмы особенно пригодны для изучения подробностей топографии почти плоских поверхностей; в частности, они были применены при исследовании поверхности кристаллов. Описываемые ниже методы являются весьма мощными: они позволяют измерять неровности молекулярных размеров, используя лишь свет видимых длин волн. В этих методах используется интерференция низших порядков многократно отражённых лучей; многократно отражённые лучи получаются в тонком слое, заключённом между двумя отражающими металлическими поверхностями с высокой отражающей способностью (обычно серебро). Они могут быть грубо разделены на наблюдения с монохроматическим светом и на наблюдения с белым светом. Сначала мы рассмотрим наблюдения, проводимые с монохроматическим светом; в качестве источника освещения обычно используется свет ртутной дуги в вакууме, пропущенный через зелёный фильтр.