Большие достижения в области рентгеновской спектроскопии за последнее время позволяют с успехом применять этот метод для выяснения ряда вопросов, связанных со структурой реальных кристаллических тел и механизмом их деформации. Как известно, мозаичная структура реальных кристаллов приводит к расширению области отражения от них рентгеновских лучей, так что фактически наблюдаемое значение полуширины максимума отражения значительно превосходит величину, подсчитанную в предположении идеального совершенства кристалла. Баковский и Далейжек в ряде работ пытались оценить влияние мозаичной структуры кристаллов на степень разрешения дублета К_α. В этих исследованиях выбирались различные соотношения между расстояниями от кристалла до кассеты и щели спектрографа.