Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces

PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef (all)
DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022
URL: https://ufn.ru/en/articles/1984/1/f/
Citation: Revokatova I P, Silin A P "Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces" Sov. Phys. Usp. 27 76–78 (1984)

BibTexBibNote ® (generic)

BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

TY JOUR
TI Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces
AU Revokatova, I. P.
AU Silin, A. P.
PB Physics-Uspekhi
PY 1984
JO Physics-Uspekhi
JF Physics-Uspekhi
JA Phys. Usp.
VL 27
IS 1
SP 76-78
UR https://ufn.ru/en/articles/1984/1/f/
ER https://doi.org/10.1070/PU1984v027n01ABEH004022

Оригинал: Ревокатова И П, Силин А П «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» УФН 142 159–162 (1984); DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159