Issues

 / 

1984

 / 

January

  

From the current literature


Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces

Fulltext pdf (100 KB)
Fulltext is also available at DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022
PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef (all)
DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022
URL: https://ufn.ru/en/articles/1984/1/f/
Citation: Revokatova I P, Silin A P "Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces" Sov. Phys. Usp. 27 76–78 (1984)
BibTex BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
%0 Journal Article
%T Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces
%A I. P. Revokatova
%A A. P. Silin
%I Physics-Uspekhi
%D 1984
%J Phys. Usp.
%V 27
%N 1
%P 76-78
%U https://ufn.ru/en/articles/1984/1/f/
%U https://doi.org/10.1070/PU1984v027n01ABEH004022

Оригинал: Ревокатова И П, Силин А П «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» УФН 142 159–162 (1984); DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159

© 1918–2024 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions