Secondary-Emission Methods of Investigating the Structure and Composition of the Surface Layers of Solids

PACS: 01.10.Fv
DOI: 10.1070/PU1977v020n07ABEH005451
URL: https://ufn.ru/en/articles/1977/7/h/
Citation: Abroyan I A, Korablev V V, Petrov N N, Titov A I "Secondary-Emission Methods of Investigating the Structure and Composition of the Surface Layers of Solids" Sov. Phys. Usp. 20 640–642 (1977)

BibTex

BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

%0 Journal Article
%T Secondary-Emission Methods of Investigating the Structure and Composition of the Surface Layers of Solids
%A I. A. Abroyan
%A V. V. Korablev
%A N. N. Petrov
%A A. I. Titov
%I Physics-Uspekhi
%D 1977
%J Phys. Usp.
%V 20
%N 7
%P 640-642
%U https://ufn.ru/en/articles/1977/7/h/
%U https://doi.org/10.1070/PU1977v020n07ABEH005451

Оригинал: Аброян И А, Кораблев В В, Петров Н Н, Титов А И «Вторично-эмиссионные методы исследования структуры и состава приповерхностных слоев твердых тел» УФН 122 528–529 (1977); DOI: 10.3367/UFNr.0122.197707i.0528