Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors

PACS: 71.18.+y, 72.20.My (all)
DOI: 10.1070/PU1971v014n03ABEH004715
URL: https://ufn.ru/en/articles/1971/3/l/
Citation: Anzin V B, Bresler M S, Veselago V G, Kosichkin Yu V, Pikus G E, Farbshtein I I, Shalyt S S "Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors" Sov. Phys. Usp. 14 360–361 (1971)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

RT Journal
T1 Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors
A1 Anzin,V.B.
A1 Bresler,M.S.
A1 Veselago,V.G.
A1 Kosichkin,Yu.V.
A1 Pikus,G.E.
A1 Farbshtein,I.I.
A1 Shalyt,S.S.
PB Physics-Uspekhi
PY 1971
FD 10 Mar, 1971
JF Physics-Uspekhi
JO Phys. Usp.
VO 14
IS 3
SP 360-361
DO 10.1070/PU1971v014n03ABEH004715
LK https://ufn.ru/en/articles/1971/3/l/

Оригинал: Анзин В Б, Бреслер М С, Веселаго В Г, Косичкин Ю В, Пикус Г Е, Фарбштейн И И, Шалыт С С «Экспериментальное обнаружение магнитного пробоя в полупроводниках» УФН 104 169–170 (1971); DOI: 10.3367/UFNr.0104.197105n.0169