Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors

PACS: 71.18.+y, 72.20.My (all)
DOI: 10.1070/PU1971v014n03ABEH004715
URL: https://ufn.ru/en/articles/1971/3/l/
Citation: Anzin V B, Bresler M S, Veselago V G, Kosichkin Yu V, Pikus G E, Farbshtein I I, Shalyt S S "Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors" Sov. Phys. Usp. 14 360–361 (1971)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

PT Journal Article
TI Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors
AU Anzin V B
FAU Anzin VB
AU Bresler M S
FAU Bresler MS
AU Veselago V G
FAU Veselago VG
AU Kosichkin Yu V
FAU Kosichkin YV
AU Pikus G E
FAU Pikus GE
AU Farbshtein I I
FAU Farbshtein II
AU Shalyt S S
FAU Shalyt SS
DP 10 Mar, 1971
TA Phys. Usp.
VI 14
IP 3
PG 360-361
RX 10.1070/PU1971v014n03ABEH004715
URL https://ufn.ru/en/articles/1971/3/l/
SO Phys. Usp. 1971 Mar 10;14(3):360-361

Оригинал: Анзин В Б, Бреслер М С, Веселаго В Г, Косичкин Ю В, Пикус Г Е, Фарбштейн И И, Шалыт С С «Экспериментальное обнаружение магнитного пробоя в полупроводниках» УФН 104 169–170 (1971); DOI: 10.3367/UFNr.0104.197105n.0169