Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors

PACS: 71.18.+y, 72.20.My (all)
DOI: 10.1070/PU1971v014n03ABEH004715
URL: https://ufn.ru/en/articles/1971/3/l/
Citation: Anzin V B, Bresler M S, Veselago V G, Kosichkin Yu V, Pikus G E, Farbshtein I I, Shalyt S S "Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors" Sov. Phys. Usp. 14 360–361 (1971)

BibTexBibNote ® (generic)

BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

TY JOUR
TI Experimental Observation of Magnetic Breakdown in Semiconductors
AU Anzin, V. B.
AU Bresler, M. S.
AU Veselago, V. G.
AU Kosichkin, Yu. V.
AU Pikus, G. E.
AU Farbshtein, I. I.
AU Shalyt, S. S.
PB Physics-Uspekhi
PY 1971
JO Physics-Uspekhi
JF Physics-Uspekhi
JA Phys. Usp.
VL 14
IS 3
SP 360-361
UR https://ufn.ru/en/articles/1971/3/l/
ER https://doi.org/10.1070/PU1971v014n03ABEH004715

Оригинал: Анзин В Б, Бреслер М С, Веселаго В Г, Косичкин Ю В, Пикус Г Е, Фарбштейн И И, Шалыт С С «Экспериментальное обнаружение магнитного пробоя в полупроводниках» УФН 104 169–170 (1971); DOI: 10.3367/UFNr.0104.197105n.0169