Указатель PACS

68.37.Ef Scanning tunneling microscopy (including chemistry induced with STM)
  1. Л.В. Арапкина, В.А. Юрьев «Классификация hut-кластеров Ge в массивах, формируемых на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах» 180 289–302 (2010)
    68.37.Ef, 81.07.Ta, 81.15.Hi (все)
  2. А.А. Шкляев, М. Ичикава «Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа» 176 913–930 (2006)
    68.37.Ef, 79.70.+q, 81.16.Ta (все)
  3. В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» 175 1111–1115 (2005)
    65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef (все)
  4. Н.С. Маслова «Физика и химия поверхности твердых тел» 161 (4) 188–189 (1991)
    68.37.Ef, 68.37.Ps, 68.47.Fg (все)
  5. В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» 161 (3) 168–171 (1991)
    07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt (все)
  6. В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» 155 155–158 (1988)
    68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At (все)
  7. М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» 155 158–159 (1988)
    68.37.Ef, 73.30.+y, 68.35.Bs, 74.72.Bk, 74.50.+r (все)
  8. В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия» 154 153–160 (1988)
    07.79.Cz, 01.10.Cr, 68.37.Ef, 68.35.Bs, 74.25.Jb, 74.50.+r (все)
  9. И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» 142 159–162 (1984)
    07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
  10. П.И. Арсеев, В.Н. Манцевич и др. «Особенности туннельных процессов в полупроводниковых наноструктурах», принята к публикации
    68.37.Ef, 05.60.Gg, 73.40.Gk, 73.63.−b (все)
© Успехи физических наук, 1918–2017
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение