68.37.Ef Scanning tunneling microscopy (including chemistry induced with STM) 79.70.+q Field emission, ionization, evaporation, and desorption 81.16.Ta Atom manipulation

С.А. Баренгольц, Г.А. Месяц «Взрывоэмиссионные процессы в термоядерных установках с магнитным удержанием плазмы и линейных электрон-позитронных коллайдерах» 193 751–769 (2023)
52.40.Hf, 52.80.Vp, 79.70.+q (все)
Е.Д. Эйдельман, А.В. Архипов «Полевая эмиссия из углеродных наноструктур: модели и эксперимент» 190 693–714 (2020)
71.38.Ht, 73.63.−b, 79.70.+q (все)
П.И. Арсеев, В.Н. Манцевич и др. «Особенности туннельных процессов в полупроводниковых наноструктурах» 187 1147–1168 (2017)
05.60.Gg, 68.37.Ef, 73.40.Gk, 73.63.−b (все)
А.С. Бугаев, П.А. Ерошкин и др. «Маломощные рентгеновские трубки (современное состояние)» 183 727–740 (2013)
07.85.Fv, 41.50.+h, 79.70.+q (все)
А.Д. Погребняк, А.Г. Пономарев и др. «Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов» 182 287–321 (2012)
07.78.+s, 78.70.Bj, 81.16.Ta, 84.40.-z (все)
Л.В. Арапкина, В.А. Юрьев «Классификация hut-кластеров Ge в массивах, формируемых на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах» 180 289–302 (2010)
68.37.Ef, 81.07.Ta, 81.15.Hi (все)
В.И. Балыкин «Атомно-проекционная параллельная фабрикация наноструктур» 177 780–786 (2007)
01.10.Fv, 81.07.−b, 81.16.−c, 81.16.Ta (все)
Н.М. Блашенков, Г.Я. Лаврентьев «Исследование неравновесной поверхностной ионизации методом полевой поверхностно-ионизационной масс-спектрометрии» 177 59–85 (2007)
33.80.Eh, 36.20.−r, 68.43.−h, 79.70.+q (все)
А.А. Шкляев, М. Ичикава «Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа» 176 913–930 (2006)
68.37.Ef, 79.70.+q, 81.16.Ta (все)
В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» 175 1111–1115 (2005)
65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef (все)
А.Т. Рахимов «Автоэмиссионные катоды (холодные эмиттеры) на нанокристаллических углеродных и наноалмазных пленках (физика, технология, применение)» 170 996–999 (2000)
79.60.Jv, 79.70.+q, 85.45.−w, 85.60.Pg (все)
Н.С. Маслова «Физика и химия поверхности твердых тел» 161 (4) 188–189 (1991)
68.37.Ef, 68.37.Ps, 68.47.Fg (все)
В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» 161 (3) 168–171 (1991)
07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt (все)
В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» 155 155–158 (1988)
68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At (все)
М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» 155 158–159 (1988)
68.37.Ef, 73.30.+y, 68.35.Bs, 74.72.Bk, 74.50.+r (все)
В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия» 154 153–160 (1988)
07.79.Cz, 01.10.Cr, 68.37.Ef, 68.35.Bs, 74.25.Jb, 74.50.+r (все)
И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» 142 159–162 (1984)
07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
М.Д. Габович «Жидкометаллические эмиттеры ионов» 140 137–151 (1983)
79.70.+q
С.П. Бугаев, Е.А. Литвинов и др. «Взрывная эмиссия электронов» 115 101–120 (1975)
79.40.+z, 79.70.+q, 82.45.Fk (все)
С.А. Азимов, Ю.К. Вищакас и др. «Памяти Эммануила Ильича Адировича» 114 165–166 (1974)
01.60.+q, 79.40.+z, 79.70.+q (все)
Б.Ю. Миргородский, Д.Я. Костюкевич, Д.А. Макарченко «Демонстрационный микроскоп с автоэлектроннои эмиссией» 110 669–670 (1973)
07.78.+s, 79.70.+q (все)
А.Л. Суворов, В.В. Требуховский «Масс-анализ в автоионной микроскопии» 107 657–683 (1972)
79.70.+q, 68.37.Vj, 32.80.Dz (все)
В.А. Цукерман, Л.В. Тарасова, С.И. Лобов «Новые источники рентгеновских лучей» 103 319–337 (1971)
07.85.Fv, 79.70.+q (все)
Э.М. Надгорный «Свойства нитевидных кристаллов» 77 201–227 (1962)
68.70.+w, 81.40.Jj, 81.40.Lm, 61.72.Hh, 75.60.Ch, 79.70.+q (все)
Э.Я. Зандберг, Н.И. Ионов «Поверхностная ионизация» 67 581–623 (1959)
73.30.+y, 79.70.+q, 68.47.De, 68.47.Fg, 68.35.Md, 73.20.At (все)

Указатель PACS