68.37.Ef Scanning tunneling microscopy (including chemistry induced with STM)
68.37.Ps Atomic force microscopy (AFM)
68.47.Fg Semiconductor surfaces
-
П.И. Арсеев, В.Н. Манцевич и др. «Особенности туннельных процессов в полупроводниковых наноструктурах» 187 1147–1168 (2017)
05.60.Gg, 68.37.Ef, 73.40.Gk, 73.63.−b (все)
-
Д.В. Казанцев, Е.В. Кузнецов и др. «Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля» 187 277–295 (2017)
07.60.+j, 07.79.Fc, 61.46.+w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.+t (все)
-
Л.В. Арапкина, В.А. Юрьев «Классификация hut-кластеров Ge в массивах, формируемых на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах» 180 289–302 (2010)
68.37.Ef, 81.07.Ta, 81.15.Hi (все)
-
А.А. Шкляев, М. Ичикава «Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа» 176 913–930 (2006)
68.37.Ef, 79.70.+q, 81.16.Ta (все)
-
В.С. Эдельман «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута» 175 1111–1115 (2005)
65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef (все)
-
Н.С. Маслова «Физика и химия поверхности твердых тел» 161 (4) 188–189 (1991)
68.37.Ef, 68.37.Ps, 68.47.Fg (все)
-
В.С. Эдельман «Развитие сканирующей туннельной микроскопии» 161 (3) 168–171 (1991)
07.79.Cz, 68.37.Ef, 72.40.+w, 78.55.Cr, 74.72.Bk, 78.67.Pt (все)
-
И.Н. Сисакян, А.Б. Шварцбург «Адаптивная радиооптика» 155 153–155 (1988)
42.79.Hp, 42.79.Ci, 72.30.+q, 72.20.Ht, 72.20.Jv, 68.47.Fg (все)
-
В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности» 155 155–158 (1988)
68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At (все)
-
М.С. Хайкин «Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия» 155 158–159 (1988)
68.37.Ef, 73.30.+y, 68.35.Bs, 74.72.Bk, 74.50.+r (все)
-
В.М. Свистунов, М.А. Белоголовский, А.И. Дьяченко «Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия» 154 153–160 (1988)
07.79.Cz, 01.10.Cr, 68.37.Ef, 68.35.Bs, 74.25.Jb, 74.50.+r (все)
-
В.А. Гражулис «Низкотемпературные исследования поверхностей некоторых полупроводников» 152 703–704 (1987)
68.35.Bs, 68.47.Fg, 68.43.−h, 79.60.Bm, 68.49.Jk, 61.14.Hg (все)
-
С.А. Ахманов, В.И. Емельянов и др. «Воздействие мощного лазерного излучения на поверхность полупроводников и металлов: нелинейно-оптические эффекты и нелинейно-оптическая диагностика» 147 675–745 (1985)
61.80.Ba, 68.47.De, 68.47.Fg, 64.70.Kb, 68.35.Rh, 78.35.+c (все)
-
И.П. Ревокатова, А.П. Силин «Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел» 142 159–162 (1984)
07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
-
Э.Я. Зандберг, Н.И. Ионов «Поверхностная ионизация» 67 581–623 (1959)
73.30.+y, 79.70.+q, 68.47.De, 68.47.Fg, 68.35.Md, 73.20.At (все)
-
Д.В. Казанцев, Е.А. Казанцева «Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света», принята к публикации
07.79.Fc, 68.37.Ps, 07.60.−j, 87.64.Je, 61.46.+w, 85.30.De, 68.65.Pq (все)
|