Указатель PACS

61.72.Ff Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.)
© Успехи физических наук, 1918–2017
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение