Указатель PACS

07.78.+s Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers 61.72.Ff Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.) 68.37.Hk Scanning electron microscopy (SEM) (including EBIC) 78.60.Hk Cathodoluminescence, ionoluminescence 87.64.Ee Electron microscopy
  1. И.Г. Дьячкова, Д.А. Золотов и др. «Возможности СВЧ-метода активации углеродных материалов в сравнении с традиционным термическим» 193 1325–1334 (2023)
    61.05.C−, 68.37.Hk, 68.37.Lp, 78.70.Gq (все)
  2. С.А. Асеев, А.С. Ахманов и др. «Структурная динамика свободных молекул и конденсированного вещества» 190 113–136 (2020)
    07.78.+s, 42.65.Re, 61.05.J− (все)
  3. Т.С. Аргунова, В.Г. Кон «Исследование микропор в монокристаллах методом фазово-контрастного изображения на просвет в синхротронном излучении» 189 643–658 (2019)
    42.25.Fx, 42.25.Kb, 61.72.−y, 61.72.Ff, 61.72.Lk (все)
  4. С.А. Асеев, Е.А. Рябов «Исследование структурной динамики веществ методами сверхбыстрой электронной дифракции и микроскопии (к 50-летию Института спектроскопии РАН)» 189 306–311 (2019)
    07.78.+s, 61.05.J−, 64.70.D−, 64.70.K−, 68.37.Og (все)
  5. В.И. Карась, В.И. Соколенко «Неравновесная кинетика электрон-фононной подсистемы кристалла при действии переменных электрических и магнитных полей как основа электро- и магнитопластического эффектов» 188 1155–1177 (2018)
    61.72.Ff, 61.72.Hh, 62.20.Hg, 63.20.kd, 63.20.kp, 75.80.+q, 83.60.Np (все)
  6. Э.В. Суворов, И.А. Смирнова «Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)» 185 897–915 (2015)
    61.05.C−, 61.72.Dd, 61.72.Ff (все)
  7. А.А. Ищенко, С.А. Асеев и др. «Сверхбыстрая электронная дифракция и электронная микроскопия: современное состояние и перспективы» 184 681–722 (2014)
    07.78.+s, 61.05.J−, 64.70.D−, 64.70.K−, 68.37.Og (все)
  8. А.Д. Погребняк, А.Г. Пономарев и др. «Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов» 182 287–321 (2012)
    07.78.+s, 78.70.Bj, 81.16.Ta, 84.40.-z (все)
  9. Б.М. Смирнов «Процессы с участием кластеров и малых частиц в буферном газе» 181 713–745 (2011)
    36.40.−c, 36.40.Sx, 61.43.Hv, 64.70.D−, 68.37.Hk (все)
  10. Н.С. Маслова, В.И. Панов «Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных химических реакций» 157 185–195 (1989)
    68.37.Hk, 68.35.Bs, 73.20.At, 68.43.−h, 82.65.+r (все)
  11. А.А. Чернов «Элементарные процессы роста кристаллов из растворов» 153 678–681 (1987)
    81.10.Dn, 61.72.Ff, 77.84.Fa, 68.35.Fx (все)
  12. В.Г. Дюков «Растровая электронная микроскопия: физика формирования изображений и микроанализа» 152 357–358 (1987)
    68.37.Hk
  13. Б.К. Вайнштейн «Электронная микроскопия атомного разрешения» 152 75–122 (1987)
    07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.−f (все)
  14. Г.В. Спивак, В.И. Петров, М.К. Антошин «Локальная катодолюминесценция и ее возможности для исследования зонной структуры твердых тел» 148 689–717 (1986)
    78.60.Hk, 71.20.Nr, 68.55.Ln, 73.50.−h (все)
  15. В.С. Вавилов «Некоторые физические аспекты ионной имплантации» 145 329–346 (1985)
    81.15.Cd, 68.55.Ln, 68.55.Nq, 78.55.−m, 78.60.Hk, 78.66.Jg (все)
  16. А.А. Лебедев «Отрывки из воспоминаний о С. И. Вавилове» 114 547–549 (1974)
    07.78.+s, 07.60.Pb, 01.60.+q (все)
  17. Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.К. Антошин «Цветной контраст в растровой электронной микроскопии» 113 695–699 (1974)
    68.37.Hk, 78.60.Hk, 07.68.+m (все)
  18. А.Е. Лукьянов, Г.В. Спивак, Р.С. Гвоздовер «Зеркальная электронная микроскопия» 110 623–668 (1973)
    07.78.+s, 68.37.−d (все)
  19. Б.Ю. Миргородский, Д.Я. Костюкевич, Д.А. Макарченко «Демонстрационный микроскоп с автоэлектроннои эмиссией» 110 669–670 (1973)
    07.78.+s, 79.70.+q (все)
  20. Б.К. Вайнштейн «Трехмерная электронная микроскопия биологических макромолекул» 109 455–497 (1973)
    87.64.Ee, 36.20.Ey, 87.14.Ee, 87.15.By (все)
  21. Н.Д. Жевандров «Вадим Леонидович Левшин» 101 89–91 (1970)
    01.60.+q, 78.55.−m, 78.60.Hk (все)
  22. Г.В. Спивак, Г.В. Сапарин, М.В. Быков «Растровая электронная микроскопия» 99 635–672 (1969)
    07.78.+s, 68.37.Hk, 78.60.Hk, 61.72.Ff, 87.64.Ee (все)
  23. Р.Ф. Васильев «Хемилюминесценция в растворах» 89 409–436 (1966)
    78.60.Ps, 82.20.Pm, 82.30.−b, 78.60.Hk (все)
  24. Л.Г. Орлов, М.П. Усиков, Л.М. Утевский «Наблюдение дислокаций в металлах с помощью электронного микроскопа» 76 109–152 (1962)
    61.72.Ff, 61.72.Ji, 61.72.Nn (все)
  25. В.И. Милютин «Интерференционная и фазовая электронная микроскопия» 74 553–566 (1961)
    07.78.+s
  26. Д.М. Васильев, Б.И. Смирнов «Некоторые рентгенографические методы изучения пластически деформированных металлов» 73 503–558 (1961)
    61.10.Nz, 62.20.Fe, 61.72.Nn, 61.66.Bi, 61.72.Ff (все)
  27. Е.Ю. Кокориш, Н.Н. Шефталь «Дислокации в полупроводниковых кристаллах» 72 479–494 (1960)
    61.72.Bb, 61.72.Ff, 62.20.Fe, 71.20.Mq, 72.20.Jv, 61.72.Ss (все)
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение