Выпуски

 / 

2017

 / 

Февраль

  

Приборы и методы исследований


Рентгеновская микроскопия


Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Рентгеновская микроскопия предназначена для получения изображения исследуемого объекта в реальном пространстве в двух или трёх измерениях с использованием элементов фокусирующей оптики. Описаны различные типы микроскопов, области их применения, а также способы получения контраста изображений. Обсуждаются пути дальнейшего развития рентгеновской микроскопии.

Текст pdf (927 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830
Ключевые слова: рентгеновские лучи, рентгеновская оптика, микроскопия, спектроскопия, топография, флуоресценция, магнитный дихроизм
PACS: 07.85.Tt, 41.50.+h (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2016.06.037830
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2017/2/f/
000401039000005
2-s2.0-85019124476
2017PhyU...60..187L
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская микроскопия" УФН 187 201–219 (2017)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 25 апреля 2016, доработана: 30 мая 2016, 9 июня 2016

English citation: Lider V V “X-ray microscopyPhys. Usp. 60 187–203 (2017); DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение