Cтатьи, принятые к публикации

Обзоры актуальных проблем


Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля

 а,  б,  б,  б,  в
а Государственный научный центр Российской Федерации «Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова», Москва, Российская Федерация
б ЗАО "НТ-МДТ", Зеленоград, Российская Федерация
в Московский технологический университет, Москва, Российская Федерация

Рассмотрены принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), в котором зонд-игла играет роль стержневой антенны-вибратора, а регистрируемый сигнал -- его электромагнитное излучение. Фаза и амплитуда излучаемой волны изменяется в зависимости от условий заземления конца антенны в исследуемой точке образца. Для детектирования слабого излучения крошечной иглы (ее длина 2—15 мкм) используется оптическое гомо(гетеро)динирование и нелинейность зависимости оптической дипольной поляризуемости иглы от расстояния острие-поверхность. Пространственное разрешение прибора определяется размером острия иглы (1—20 нм), независимо от рабочей длины волны (500 нм—100 мкм). Показана способность ASNOM получать карту оптических свойств поверхности путем растрового сканирования, а также обеспечивать спектральные и временные измерения отклика поверхности в избранной точке.

Ключевые слова: микроскопия ближнего оптического поля, наноструктуры, спектроскопия, ASNOM
PACS: 07.79.Fc, 68.37.Ps, 07.60.−j, 87.64.Je, 61.46.+w, 85.30.De, 68.65.Pq (все)
Цитата: Казанцев Д В, Кузнецов Е В, Тимофеев С В, Шелаев А В, Казанцева Е А "Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля" УФН, принята к публикации

Поступила: 15 апреля 2016, доработана: 24 мая 2016, 24 мая 2016

English citation: Kazantsev D V, Kuznetsov E V, Timofeev S V, Shelaev A V, Kazantseva E A “Apertureless near-field optical microscopyPhys. Usp., accepted

© Успехи физических наук, 1918–2017
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение