Выпуски

 / 

2017

 / 

Февраль

  

Приборы и методы исследований


Рентгеновская микроскопия


Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Рентгеновская микроскопия предназначена для получения изображения исследуемого объекта в реальном пространстве в двух или трёх измерениях с использованием элементов фокусирующей оптики. Описаны различные типы микроскопов, области их применения, а также способы получения контраста изображений. Обсуждаются пути дальнейшего развития рентгеновской микроскопии.

Текст pdf (927 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830
Ключевые слова: рентгеновские лучи, рентгеновская оптика, микроскопия, спектроскопия, топография, флуоресценция, магнитный дихроизм
PACS: 07.85.Tt, 41.50.+h (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2016.06.037830
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2017/2/f/
000401039000005
2-s2.0-85019124476
2017PhyU...60..187L
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская микроскопия" УФН 187 201–219 (2017)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Рентгеновская микроскопия
A1 Лидер,В.В.
PB Успехи физических наук
PY 2017
FD 10 Feb, 2017
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 187
IS 2
SP 201-219
DO 10.3367/UFNr.2016.06.037830
LK https://ufn.ru/ru/articles/2017/2/f/

Поступила: 25 апреля 2016, доработана: 30 мая 2016, 9 июня 2016

English citation: Lider V V “X-ray microscopyPhys. Usp. 60 187–203 (2017); DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение