Рентгеновская микроскопия

В.В. Лидер
Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Рентгеновская микроскопия предназначена для получения изображения исследуемого объекта в реальном пространстве в двух или трёх измерениях с использованием элементов фокусирующей оптики. Описаны различные типы микроскопов, области их применения, а также способы получения контраста изображений. Обсуждаются пути дальнейшего развития рентгеновской микроскопии.

Текст pdf (927 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830

Ключевые слова: рентгеновские лучи, рентгеновская оптика, микроскопия, спектроскопия, топография, флуоресценция, магнитный дихроизм
PACS: 07.85.Tt, 41.50.+h (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2016.06.037830
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2017/2/f/
Web of Science

000401039000005
Scopus

2-s2.0-85019124476
ADS NASA

2017PhyU...60..187L
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская микроскопия" УФН 187 201–219 (2017)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

@article{Lider:2017,
	author = {В. В. Лидер},
	title = {Рентгеновская микроскопия},
	publisher = {Успехи физических наук},
	year = {2017},
	journal = {Усп. физ. наук},
	volume = {187},
	number = {2},
	pages = {201-219},
	url = {https://ufn.ru/ru/articles/2017/2/f/},
	doi = {10.3367/UFNr.2016.06.037830}
}

Поступила: 25 апреля 2016, доработана: 30 мая 2016, одобрена в печать: 9 июня 2016

English citation: Lider V V “X-ray microscopy” Phys. Usp. 60 187–203 (2017); DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830