Выпуски

 / 

2017

 / 

Февраль

  

Приборы и методы исследований


Рентгеновская микроскопия


Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва, Российская Федерация

Рентгеновская микроскопия предназначена для получения изображения исследуемого объекта в реальном пространстве в двух или трёх измерениях с использованием элементов фокусирующей оптики. Описаны различные типы микроскопов, области их применения, а также способы получения контраста изображений. Обсуждаются пути дальнейшего развития рентгеновской микроскопии.

Текст: pdf (927 Кб)
Ключевые слова: рентгеновские лучи, рентгеновская оптика, микроскопия, спектроскопия, топография, флуоресценция, магнитный дихроизм
PACS: 07.85.Tt, 41.50.+h (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2016.06.037830
URL: http://ufn.ru/ru/articles/2017/2/f/
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская микроскопия" УФН 187 201–219 (2017)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 25 апреля 2016, доработана: 30 мая 2016, 9 июня 2016

English citation: Lider V V “X-ray microscopyPhys. Usp. 60 (2) (2017); DOI: 10.3367/UFNe.2016.06.037830

© Успехи физических наук, 1918–2017
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение