Выпуски

 / 

1979

 / 

Октябрь

  

Обзоры актуальных проблем


Элементарные процессы и рентгеновские спектры многозарядных ионов в плотной высокотемпературной плазме

 а,  б,
а Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация
б Объединенный институт высоких температур РАН, ул. Ижорская 13/19, Москва, 127412, Российская Федерация

Содержание: Введение. Особенности возбуждения спектров в инерциально удерживаемой плазме. Скорости столкновительной релаксации возбужденных состояний. Сечения и скорости переходов при электрон-ионных столкновениях. Сечения и скорости переходов при ион-ионных столкновениях. Влияние эффектов поляризации плазмы на частоту неупругих столкновений. Относительные интенсивности спектральных линий многозарядных ионов в плотной плазме. Отношение интенсивностей компонент тонкой структуры резонансной линии водородоподобных ионов. Отношение интенсивностей резонансных и интеркомбинационных линий гелиеподобных ионов. Отношение интенсивностей диэлектронных сателлитов резонансной линии водородоподобных ионов. Отношение интенсивностей линий кислородоподобных ионов. О спектроскопической диагностике сверхплотной плазмы. Область применения спектроскопических методов диагностики. Влияние электрических и магнитных полей на спектр излучения многозарядных ионов. Заключение. Цитированная литература

Текст pdf (2 Мб)
PACS: 52.70.−m, 52.20.−j, 52.25.Ps (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0129.197910a.0177
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1979/10/a/
Цитата: Виноградов А В, Скобелев И Ю, Юков Е А "Элементарные процессы и рентгеновские спектры многозарядных ионов в плотной высокотемпературной плазме" УФН 129 177–209 (1979)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Vinogradov A V, Skobelev I Yu, Yukov E A “Elementary processes and x-ray spectra of multiply charged ions in dense high-temperature plasmasSov. Phys. Usp. 22 771–787 (1979); DOI: 10.1070/PU1979v022n10ABEH005613

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение